光學(xué)切割傳感器一般采用光學(xué)切割方法，其中激光束首先照射到物體上，然后擴(kuò)散和反射。

然后反射光被互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體（CMOS）接收并形成圖像，以獲得待測(cè)物體的高度、形狀和位置等信息。

如上所述，在使用光學(xué)切割傳感器的傳統(tǒng)測(cè)量方法中，從激光光源發(fā)射狹縫光，并且由相機(jī)(CMOS)接收反射光。

然而，這些設(shè)備并沒(méi)有集成為一個(gè)設(shè)備，而是作為單獨(dú)的設(shè)備運(yùn)行，并且捕獲的圖像以單色顯示。

如今，測(cè)量物體的精度要求越來(lái)越高。

因此，光學(xué)切割傳感器的使用環(huán)境變得更加復(fù)雜，因此通過(guò)將光學(xué)切割傳感器和其他設(shè)備集成到單個(gè)設(shè)備中，我們使穩(wěn)定的檢查成為可能。

此外，到目前為止，捕獲的圖像僅以單色顯示，但由于技術(shù)的進(jìn)步，現(xiàn)在可以以彩色查看數(shù)據(jù)。

此外，包括光學(xué)切割傳感器在內(nèi)的當(dāng)前應(yīng)用旨在靈活切換設(shè)備設(shè)置以適應(yīng)各種條件，這有助于節(jié)省勞動(dòng)力并提高現(xiàn)代生產(chǎn)過(guò)程中的檢測(cè)質(zhì)量。